85主页面中建档包含料盘、测试界面、分类、灯号、速度、动作时间、存档和返回。

料盘

料盘中包括Tray盘、加热盘、Device和旋转的一些基础设定。


Z符号:置放料方向,点击可切换在Tray盘上吸取置放IC的方向

右前左后                               右后左前                           左前右后                              左后右前

Copy to:点击后可以将Tray Ld料盘资料档案复制到EmptyLd、Fix1、Fix2、Fix3。

QFN_2×2(12×25).try为当前使用的tray盘资料档案,鼠标双击可查看详情或修改。

Name:Tray 规格档案名。

Pitch:列间距、行间距。

Start:列起始距离、行起始距离。

Division:列数、行数。

Tray Type:有 JEDIC、EIAJ 二个种类。

Stacking:堆叠厚度。

Pick Height:Device 吸取高度。

Save:储存 Tray 规格档案(*.try)。

Browse:开启 Tray 规格档案(*.try)。

Exit:离开并更新链结 Tray 规格档案。

Auto1 Sort:勾选后,结批时 Auto1 依据置放料方向整理料盘。

Auto2 Sort:勾选后,结批时 Auto2 依据置放料方向整理料盘。

Auto3 Sort:勾选后,结批时 Auto3 依据置放料方向整理料盘。

Fix1 Sort:勾选后,结批时 Fix1 依据置放料方向整理料盘。

Fix2 Sort:勾选后,结批时 Fix2 依据置放料方向整理料盘。

Fix3 Sort:勾选后,结批时 Fix3 依据置放料方向整理料盘。

Division2:勾选后,软体将区分相对应之 Fix1~Fix3 料盘为前后两个分 BIN 区块。


Color Tray Mode

RT Not Same With NT:勾选表示重测时,料盘动作模式与正常测试设定不同。可

于下方另行设定。


HotPlate/Device/Option

HotPlate:显示所使用HotPlate 规格档案。双击可对 HotPlate档案查看修改。

Name:HotPlate 规格档案名。

Pitch:列间距、行间距。

Start:列起始距离、行起始距离。

Division:列数、行数。

Seating:IC 置放高度。

Save:储存 HotPlate 规格档案(*.hot)。

Browse:开启 HotPlate 规格档案(*.hot)。

Exit:离开并更新链结 HotPlate 规格档案。

HotPlate 2:勾选表示使用 HotPlate2 加热区。

HotPlate 1:勾选表示使用 HotPlate1 加热区。

Device:显示所使用Device 规格档案。双击可对 Device 档案查看修改。

Name:Device 规格档案名。

BodyThickness:胶体厚度。

LeadThickness:Device 脚厚度。

Save:储存 Device 规格档案(*.dev)。

Browse:开启 Device 规格档案(*.dev)。

Exit:离开并更新链结 Device 规格档案

Option:

旋转机构使用马达设计时显现。

Rotate:勾选表示 InputArm 或 OutputArm 使用旋转 90°功能。

From:旋转前角度。归零完成时角度为 0°。

To:旋转后角度。归零完成时角度为 0°。

SingleCup(Cup4):勾选表示InputArm只使用Cup4吸嘴(最靠近IndexArm吸嘴)。

SingleCup(Cup1):勾选表示 OutputArm 只使用 Cup1 吸嘴(最靠近 IndexArm 吸嘴)。



测试界面-Tab0

First Maximum Time:第一次测试逾时时间。为零则忽略。

Maximum Time:测试逾时时间。连线失败时忽略等待信号,跳离回圈。

Start Delay Time:测试延迟时间。防止 IC 接触 Socket 时杂讯干扰。

Contact Method:IC 接触 Socket 的方式。

Direct:IC 直接下压 Socket。

Double Contact:核选时,第一次下压后,测头会在拉升一小断距离再次下压,才送测试信号。

Raise Height:Double Contact 时测头拉升高度。

Direct & Soft:二段速下压。测头先高速下压至 Socket 上方,再以慢速下压至测试位置。

Drop Height:测试位置上方二段速开始高度。

Drop:IC 在测试位置上方空抛入 Socket,测头再下压。

Ejector Time:真空破坏吹气时间。

Drop Height:测试位置上方空抛高度。

Drop & Soft:二段速空抛下压。测头先高速下压至 Socket 上方,空抛 IC,再以慢速下压至测试位置。

Direct & BurnSkt:测头 IndexMove 将 IC 置放入 Socket 后,测头拉升 Floating Height 高度,检测 IC 是否置放正常。测头再拉升至 Raise Height 高度。

测试完成后再下降将 IC 吸取。IndexMove 移动换另一颗 IC。

Raise Height:测试位置上方等待测试高度。(搭配 Socket 补温形成密室)

Ejector Time:真空破坏吹气时间。

Drop Height:测试位置上方检测真空高度。

Blow Air Buffer:测头 IndexMove 前气囊泄压,IndexMove 后才调压至设定压力。(注:安装电子调压阀机型才有此功能)

Tester Interface Type:

TTL 按钮:点选表示与测试机连线采用 TTL 连线方式。

右侧显示所使用档案,双击则显现开启档案画面,可开启不同设定档案。

点击最右测按钮,则显现设定画面。

RS232 按钮:点选表示与测试机连线采用 RS232 连线方式。

右侧显示所使用档案,双击则显现开启档案画面,可开启不同设定档案。

点击最右测按钮,则显现设定画面。

GPIB 按钮:点选表示与测试机连线采用 GPIB 连线方式。

右侧显示所使用档案,双击则显现开启档案画面,可开启不同设定档案。

点击最右测按钮,则显现设定画面。

TTL 设定画面:

Name:TTL 连线设定规格档案名。

Serial/Parallel:Test Site 信号输出方式(串行输出、并列输出)。

Binary/1 of 8:Bin 信号编码方式(二进位编码、单线编码)。

Start Pause/Star Level:Start 动作方式(固定时间、EotLevel 检查)。

BinLA/BinHA:Bin 信号有效准位 (低准位、高准位)。

Wire:Bin 信号有效线数。

EOT LA/EOT HA:EOT 信号有效准位 (低准位、高准位)。

StartLA/StartHA:Start 信号有效准位 (低准位、高准位)。

Start Asynchronous:Start 信号非同步输出,约每隔 2ms 输出一个 Start 信号。

Other Protocol:其它通讯格式。当使用非标准通讯格式,可下拉选择特殊通讯格式。

Binout Start From:Bin开始数值。将接收自测试机Bin数值加上此值,作为本机分Bin基准。

SOT Width(ms):SOT信息发送宽度,单位毫秒。

Save:储存 TTL 连线设定规格档案(*.ttl)。

Browse:开启 TTL 连线设定规格档案(*.ttl)。

Exit:离开。

RS232 设定画面:

Name:RS232 连线设定规格档案名。

Tester Type:连线测试机类型,可下拉选择。

Baud Rate:传输速率(19200、9600、4800)。

Bit Length:传输位长度(7 位、8 位)。

STOP Bit:停止位长度(1 位、2 位)。

Parity:同步位(偶同位、奇同位、无同位位)。

IC Not Ready Echo Time(ms):IC未准备回送时间,单位毫秒。

Save:储存 RS232 连线设定规格档案(*.232)。

Browse:开启 RS232 连线设定规格档案(*.232)。

Exit:离开。

GPIB 设定画面:

Name:GPIB 连线设定规格档案名。

Tester Type:连线测试机类型,可下拉选择。

GPIB Addr:GPIB 地址。

Auto Request:当测试机无法回应 Service Request 时,自动重送 Service Request要求。

Reset Mode:下拉选择当 GPIB 发生错误时自动重置方式。可降低测试机通讯异常

0.No Reset : 无自动重置。

1.EchoOk Reset : 当接收不到”ECHO OK”命令时自动重置。

2.Alarm Reset : 当错误发生时自动重置。

3.EchoOk + Alarm Reset : 当接收不到”ECHO OK”命令时、或当错误发生时自动重置。

KEEP SENDING SRQ:持续发送服务请求信号。

  1. None
  2. SRQ 40
  3. SRQ 0

Debug Mode:勾选时外挂 GPIB 进入除错模式(Debug Mode)。

Save:储存 GPIB 连线设定规格档案(*.gpb)。

Browse:开启 GPIB 连线设定规格档案(*.gpb)。

Exit:离开

Indexarm shuttle pickup测试区梭车吸取

Soft level缓慢等级

None无

Slowly慢慢

Soft慢

Shift height(mm):移动高度


测试界面-tab1

TestHead Type:

DUT Type:测试头排列类型。计有下列四种:

SocketPitch_X:测试座 X 向间距。

SocketPitch_Y:测试座 Y 向间距。

SiteUse:勾选代表使用此测试座。

Apply:当批号开始生产后,于生产中途改变测试座使用状况,按 Apply可立即改变。

SiteMaping:测试座连接之 TestSite 设定。鼠标左键数值加一。点击滑鼠右键数值减一。

WorkPress Use IndexArm2:勾选代表使用 IndexArm2 测试头。

WorkPress Use IndexArm1:勾选代表使用 IndexArm1 测试头。

Socket SensorX/Y:SocketBase Socket 残留 IC 感测器安装选项。

None:未安装。

DarkOn(EX13B):安装 DarkOn 感测器。

LightOn(EX13A):安装 LightOn 感测器。

Socket Type:测试座(Socket)压测次数记录档案。右侧显示所使用档案,点双击则显现开启档案画面,可开启不同设定档案。点击最右测按钮,则显现设定画面。

画面上 A~H 为测试座安装位置,紫色背景为测试座编号,橘色背景为压测次数。

Socket Alarm Limit:当测试座压测次数超出设定值后,发出错误警告,并且须更新测试座,或调高设定值才可继续生产。设定值为零取消警告。

Save:储存测试座压测次数档案(*.skt)。

Browse:开启测试座压测次数档案(*.skt)。

Exit:离开。



分类为分BIN及良率相关设定

BINSetting BIN设定

横轴为 Bin0~Bin15、ReTest。

竖轴为 Auto1、Auto2 、Auto3、Fix1、Fix2、Fix3、ReContact、Repeat、CntFail、BinColor。用滑鼠左键点选方格,方格会变化颜色。

AfterHome:当测试结果与 AfterHome 点选相符时机台须进行归零。

ReContact:当测试结果与 ReContact 点选相符时重新压测。测试结果良品之测头将不会发送测试信号。

Repeat:当测试结果与 Repect 点选相符时重送测试信号。测试结果良品之测头将不会重送测试信号。

CntFail:当测试结果与 CntFail 点选相符时连续异常计数增加一次。

BinColor:设定每一个 Bin 代表颜色。

Pass1 Color:Bin Color 各种颜色中,视为良品颜色一。

Pass2 Color:Bin Color 各种颜色中,视为良品颜色二。

Continue Fail(Normal):正测时连续异常次数设定。

测头一、测头二、测试座的测试结果会独立统计与 CntFail 点选相符的次数,当不相符时该统计归零。

当次数超过连续异常次数设定时则产生错误停机。

Continue Fail(Retest):回测时连续异常次数设定。其余与 Continue Fail(Normal)相同。

Continue Pass(Normal):正测时连续通过次数设定。

测头一、测头二、测试座的测试结果会独立统计与 Pass点选相符的次数,当不相符时该统计归零。

当次数超过连续通过次数设定时则产生错误停机。

Continue Fail(Retest):回测时连续通过次数设定。其余与 Continue Pass(Normal)相同

TrayENd Unload Mode :Tray退盘模式

FailBin            FailBIN盘就退盘

FailBin & Unload     FailBIN盘并且Unload勾选才退盘

Unload             Unload勾选就退盘,不分PASS/FAIL


Yield Alarm良率报警

Sample (EA):良率异常警告功能之取样数量。(Yield Un-Balance & LowYield)

Yield Un-Balance Alarm (%):良率差异常警告。测头一、测头二、测试座的各个测试结果会独立统计、一起比较,当良率差异超出设定值时发出警告。

By Bin(EA):当勾选时,「Bin Yield Over Limit」取样数为 100,未勾选时取样数为「Sample」设定值。

LowYield Alarm (%):低良率异常警告。测头一、测头二、测试座的各个测试结果会独立统计,当良率低于本设定值时发出警告。

Bin Yield Over Limit Select:Bin良率超过极限选取

Category:勾选时,该 BIN 会检查良率检查是否超出设定值。

Limit(%):警报良率设定值。当「ByBin」勾选时,若此值为零,则警报良率设定值套用「ByBin」之值。

Bin Count Over Limit Select:Bin计数超过极限选取

Category:勾选时,当本批生产中该 BIN 数量达到设定值时警报。

EA:警报数量设定值。

Socket Un-Balance Select:Socket良率差选取

Category:勾选时,该 BIN 会检查良率检查是否超出设定值。

Limit(%):警报良率设定值。当「ByBin」勾选时,若此值为零,则警报良率设定值套用「ByBin」之值。


灯号

灯号用于机台三色灯的运作时间及蜂鸣器设定。

机台状态:共分五种

Fault:严重卡料 or 机械故障,要立即排除才能恢复生产。

Warning:缺 IC or Tray,不须排除也可生产。

Run:正常生产状态。

Pause:暂停生产。

Origin:机台归零

运作时间:

RedOn:红灯亮时间。单位毫秒(ms)。

RedOff:红灯灭时间。单位毫秒(ms)。

YellewOn:黄灯亮时间。单位毫秒(ms)。

YellewOff:黄灯灭时间。单位毫秒(ms)。

GreenOn:绿灯亮时间。单位毫秒(ms)。

GreenOff:绿灯灭时间。单位毫秒(ms)。

BuzzerOn:蜂鸣器鸣叫时间。单位毫秒(ms)。

BuzzerOff:蜂鸣器关声时间。单位毫秒(ms)。

Buzzer Auto Reset:当未勾选时,操作面板上 ALARM RESET 作为喇叭 ON/OFF 开关。

当勾选时,操作面板上 ALARM RESET 作为喇叭单次关闭。



速度

用于调整各轴速度

Slowest:调整至最低速度。

Fastest:调整至最高速度。

<:速度减低 10﹪。

>:速度增加 10﹪。

Fix / Auto︰固定速度/自动调速。点击可切换。

固定速度时马达速度维持不变。

自动调速时马达速度则跟据测试时间自动调速。

固定速度及自动调速,于批号开始时马达速度皆由 20﹪开始上升。

10﹪~100﹪︰固定速度时马达速度。自动调速时马达可调最高速度。

Apply:当批号开始后,速度调整后点击 Apply 立即生效。

OK:设定值储存离开。

Cancel:设定值不储存离开。


温度

Temperature Mode:温度模式设定,共有三个模式,加热目标温度设定。

Ambient:常温模式。固定于室温不加热。

High Temperature:高温模式。固定于高温。

Ambient / High Temp:常高温模式。批号未开始前,可利用主画面进行常温或高温切换。

下列三项机台有安装 Socket 补温装置时才可使用。

Socket Hot Air:核选时进行 Socket 补温控制。点选下方可选择 Socket 补温参数档。

HiTemp Offset:高温回热增补温度。

HiTemp Time:高温回热时间。

Falling Rate:降温速率

Falling Offset:高温降热补温度

(例热风枪控制温度 50℃,HiTemp Offset 设定值 20,HiTemp Time 设定值3000,则当 IndexMove 开始时热风枪拉高控制温度为 70℃,IndexMove结束后等待 3sec,热风枪拉回控制温度为 50℃。

Time (sec):加热温度参数,于常温模式下不可输入。

SockTime:加热盘预热时间。

Initial Wait Time:目标温度初次到达后,再接续等待时间。

Not Stable Time:不稳定时间。温度超过目标温度范围,且时间持续超过不稳定时间,温控系统将重新定温。

Temperature Limit:

Upper:目标温度范围上限。

Under:目标温度范围下限。


动作时间

Input Arm(ms):

Vacuum Check Wait:真空产生 IC 吸著后等待时间。

Counter Air on Time:真空破坏吹气时间。

Wait Time On Shuttle:真空破坏吹气关闭后等待时间(HotPlate、Shuttle)。

Wait Time Motion Setting:马达移动停止后等待时间。

Pause Air On time:暂停后,真空破坏吹气延长时间。

Vacuum On At:

Top:测头吸取 Shuttle IC 时,测头开始下降时就产生真空。

Bottom:测头吸取 Shuttle IC 时,测头下降到达吸料高度时才产生真空。

(注:当小 IC 吸料后不在测头吸嘴正中心时,可选此项)


Output Arm(ms):

Wait Time On Tray:真空破坏吹气关闭后等待时间(Auto1、Auto2、Auto3、Fax1、Fax2、Fax3)。

其余同 Input Arm


Index Arm(ms):

同 Input Arm。

Socket Clean(ms):

Clean At Index:勾选时,Index Arm 进行 Index Move 动作中对 Socket 吹气。

Clean At Count:勾选时,Index Move 动作次数到达设定次数时对 Socket吹气。

Count:Index Move 设定次数。

Air On Time:Socket 清洁吹气时间。

Alarm At Index:勾选时,Index Move 达到设定次数时,机台自动 One Cycle退料后,警报提醒人工 Socket 清洁。

Lot Data Input:勾选时,必须输入批号资料才可起动运转生产。

InShuttle X-Axis SN:勾选时,进行 Input Shuttl X 轴向叠料检查。

OutShuttle Serial SN:勾选时,进行 Output Shuttle Serial 序列 IC 有无检查。(为上下对照,Shuttle Kit 必须有小孔透空)

Teach:

TeachSocket MaxHeight_M3Z1:自动教高时 M3Z1 测试高度最低值。

TeachSocket MaxHeight_M3Z2:自动教高时 M3Z2 测试高度最低值。

Tray Hammer 敲盘 勾选则为启用。

Tray Hammer Of (ms) :敲盘关闭

Tray Hammer On (ms) :敲盘开启

Tray Hammer Time :敲盘敲击次数

Tray Hammer CycleOff (ms):敲盘气缸关闭

XY-Table 3 Point Teach:XY三点校正



Drop IC Advanced:释放IC高度

InputArm Jet Times :进料吹气次数

Input Arm Jet DutyCyele(%) :进料吹气占空比

Output Arm Jet Times :出料吹气次数

Output Arm Jet DutyCycle(%) :出料吹气占空比

Index Arm Jet Times :测试区吹气次数

Index Arm Jet DutyCycle(%):测试区吹气占空比

TrayLd Double Vacuum Check:进料盘双重真空检测

Check Height Offset:检测高度偏移

Socket CCD

 Enable Socket CCD 勾选则为启用CCD功能。

FileName:文件名

鼠标双击可查看或切换CCD档案


Tray Barcode盘条码

Prefix:前缀

Path :路径

Used Path :使用路径

Upload TrayMap Compare:上传TrayMap对比



2D Code:

Enable 2D Code:勾选启用二维码CCD

Total Digits:总位数

Fixed Digits:固定位数

LoYield(%):良率

Continue Fail:连续不良

Fail Code As:不良代码

ICs per shot:每次IC拍摄

CleanPad:清洁块

Cleaning on/off 勾选清洁功能打开或关闭。

Plate Location:清洁盘位置

  Input:进料区

  Hotplate:预热区

Cleaning Mode:清洁模式

 Manual:手动

 Interval:间隔次数

Cleaning Device:清洁装置

Alarm Count :报警计数

Cleaning Count :清洁计数

Contact Parameter:接触参数

Contact Time (ms):接触时间

Contact Count (Times):接触计数(次数)

Contact Shift Height (mm) :接触移动高度

Socket Position Offset (mm) :Socket 位置偏移


Plate Spec (mu):盘规格

PitchX/Y

StartX/Y

DivisionX/Y

SeatingX/Y座位

Body Thickness:盘子厚度


Check Shuttle Double Sensor:检查梭车双感应器

Jam Rate

Sample Size:样本大小

Limmit:极限

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